مواد پیشرفته در مهندسی
صفحه اصلی
اطلاعات نشریه
درباره نشریه
اهداف و چشم انداز
اعضای هیات تحریریه
بیانیه شفافیت
فرایند پذیرش مقالات
اصول اخلاقی انتشار مقاله
بانک ها و نمایه نامه ها
مرور
شماره جاری
بر اساس شمارههای نشریه
بر اساس نویسندگان
بر اساس موضوعات
نمایه نویسندگان
راهنمای نویسندگان
ارسال مقاله
تماس با ما
فرم ها
ورود به سامانه
ورود به سامانه
ثبت نام
English
کلیدواژهها =
طیفسنجی فوتوالکترون اشعه ایکس
تعداد مقالات:
1
تحلیل تغییرات ریزساختاری، مورفولوژی و خواص نوری سطح لایههای نازک اکسید مس در اثر بازپخت جهت کاربرد در دستگاههای الکترونیک نوری
دوره 43، شماره 2، 1403، صفحه
17-28
10.47176/jame.43.2.1062
فرزاد سلیمانی
مشاهده مقاله
اصل مقاله
648.38 K
مقالات آماده انتشار
شماره جاری
شمارههای پیشین نشریه
دوره 45 (1405)
دوره 44 (1404)
دوره 43 (1403)
دوره 42 (1402)
دوره 41 (1401)
دوره 40 (1400)
دوره 39 (1399)
دوره 38 (1398)
دوره 37 (1397)
دوره 36 (1396)
دوره 35 (1395)
دوره 34 (1394)
دوره 33 (1393)
دوره 32 (1392)
دوره 31 (1391)
دوره 30 (1390)
دوره 29 (1389)
دوره 28 (1388)
دوره 27 (1387)
دوره 26 (1386)
دوره 25 (1385)
دوره 24 (1384)
دوره 23 (1383)
دوره 22 (1382)
دوره 21 (1381)
دوره 20 (1380)
دوره 19 (1379)
دوره 18 (1378)
دوره 17 (1377)
دوره 16 (1376)
دوره 15 (1373)
دوره 14 (1372)
دوره 13 (1372)
دوره 12 (1371)
دوره 11 (1371)
دوره 10 (1370)
دوره 9 (1369)
دوره 8 (1369)
دوره 7 (1368)
دوره 6 (1366)
دوره 5 (1366)
تحت نظارت وف بومی
